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材料测试技术与分析方法有哪些?

材料测试技术与分析方法

材料测试技术与分析方法主要包括以下几类,结合当今电子集成电路、金属、化工、塑料、汽车、半导体材料领域测试需求和技术发展,进行探讨:

一、显微分析技术


扫描电子显微镜(SEM)

  • 通过电子束扫描样品表面,可放大至20万倍,获得高分辨率三维图像,配合X射线能谱(EDS)可同步分析成分,适用于金属、陶瓷等材料的表面形貌观察。



透射电子显微镜(TEM)

  • 需制备超薄样品,分辨率达零点几个纳米,可直接观察原子排列、晶体缺陷及界面结构。



显微红外分析(FTIR)

  • 常用于微区表面污染物分析、微塑料鉴定、颗粒物类别测定、异物成分分析等。


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二、光谱与能谱技术


X射线光电子能谱(XPS)

  • 通过测量原子内层电子结合能,分析表面元素组成及化学状态,适用于聚合物、催化剂研究。



拉曼光谱

  • 基于分子振动散射效应,无需破坏样品即可获取化学结构信息,常用于石墨烯、高分子材料分析。



三、色谱与质谱联用技术


  • 气相色谱-质谱联用(GC-MS):用于有机小分子分离与鉴定,适用于药物、环境分析。

  • 液相色谱-质谱联用(LC-MS):适合极性大、难挥发化合物的分析。



四、热分析技术


  • TGA热重法通过监测质量随温度变化,评估材料热稳定性及分解温度,常用于高分子和复合材料测试验证。




五、元素与成分分析

  • 电感耦合等离子体分析(ICP-OES):高精度测定微量金属元素含量,适用于高纯材料、环境样品。




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更多材料测试技术与方法,推荐学习资源:

1.《材料测试技术与分析方法》(第三版,杨玉林著)系统介绍各类材料分析技术,涵盖精密仪器测试原理与检测案例。


2.材料分析测试平台介绍



提醒:不同材料测试方法选择,可根据材料类型和研究目标选择组合,例如金属相分析常用XRD+SEM-EDS,而高分子材料可能侧重TGA+红外光谱。


编辑| Amadna王莉



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