扫描电镜和能谱分析仪（SEM-EDS）

扫描电镜和能谱分析仪（简称SEM-EDS）是一种先进的技术手段，广泛应用于金属材料、高分子材料、纳米材料、电子制造以及半导体器件等领域，用于微区表面形貌观察、结构分析及元素成分分析。

SEM扫描电镜分析：

SEM利用阴极发射的电子束，经过阳极加速并由磁透镜进一步聚焦，形成一束直径为几十埃到几千埃的高能电子束。这束电子束轰击到样品表面时，会激发多种信息。通过分别收集这些信息并放大，可以在显示屏上获得各种相应的图像。SEM主要利用背散射电子（BEI）和二次电子（SEI）来成像，能够对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析。

EDS能谱分析：

EDS，即X射线能量分散谱仪，其入射电子束可以停留在被观察区域的任何位置。X射线在直径仅为1微米的体积内产生，能够对试样表面元素的分布进行质和量的分析。当高能电子束轰击样品表面时，会激发各种信号。EDS通过检测这些特征X射线，获取样品表面的成分信息。

优尔鸿信电镜实验室服务：

优尔鸿信拥有独立的电镜实验室，面向全国提供扫描电镜SEM与EDS分析测试服务。服务内容包括但不限于：

• 锡须观察

• 颗粒物观察

• 动态翘曲度测量

• SEM+EDS分析（形貌观察与成分分析）

• SEM微观尺寸测量

• 表面成分分析

• 离子浓度测试

• 沾锡能力测试

• 3D X-Ray检测

• Dye＆Pry红墨水分析

• Cross Section切片分析

• C-SAM超声波扫描分析

• Bonding Test焊点推拉力测试

• 工业CT断层扫描分析

• IMC观察（SEM电镜观察）

• SIR表面绝缘阻抗测试

• IC-Decapping芯片开封测试

此外，优尔鸿信还致力于半导体材料与器件领域的表面微区分析技术交流，为客户提供更多专业的技术支持与服务。